*

ENACT LORRAINE NORD - Approche hybride par intelligence artificielle et modélisation physique pour l'analyse ellipsométrique en temps réel de matériaux nanostructurés et complexes

Offre de thèse

ENACT LORRAINE NORD - Approche hybride par intelligence artificielle et modélisation physique pour l'analyse ellipsométrique en temps réel de matériaux nanostructurés et complexes

Date limite de candidature

18-06-2025

Date de début de contrat

01-10-2025

Directeur de thèse

BATTIE Yann

Encadrement

La thèse est co-encadrée par Y. BATTIE et A. En Naciri. Elle se déroulera au laboratoire LCP-A2MC (Université de Lorraine, Metz). Une réunion formelle sera organisée chaque semaine afin de faire le point sur l'avancée des travaux, discuter des difficultés rencontrées, ajuster les objectifs à court terme et définir les tâches à venir. Ces réunions seront également l'occasion de discuter de la bibliographie, des résultats, et de la rédaction des publications.

Type de contrat

Programmes ministériels spécifiques

école doctorale

C2MP - CHIMIE MECANIQUE MATERIAUX PHYSIQUE

équipe

Nanomatériaux

contexte

L'ellipsométrie est une technique de caractérisation optique indirecte nécessitant une étape de modélisation. Des études récentes menées par notre groupe ont démontré l'efficacité de l'utilisation de réseaux de neurones artificiels pour l'analyse rapide des données ellipsométriques, notamment dans la caractérisation de films nanocomposites. L'intégration de l'IA dans ce domaine offre des perspectives prometteuses pour l'automatisation et l'amélioration de la précision des analyses.

spécialité

Sciences des Matériaux

laboratoire

Laboratoire de Chimie et Physique - Approche Multi-Echelle des Milieux Complexes

Mots clés

réseaux de neurones, ellipsométrie, modélisation, inversion neuronale, nanomatériaux

Détail de l'offre

Le Laboratoire de Chimie Physique – Approche Multi-échelles des Milieux Complexes (LCP-A2MC) de Metz dispose d'une plateforme ellipsométrique de pointe, couvrant un large domaine spectral de l'ultraviolet à l'infrarouge lointain (250 nm à 35 µm). Cette plateforme permet la caractérisation précise de matériaux complexes tels que les films minces, les nanostructures et les matériaux chiraux, en mesurant des propriétés optiques comme l'indice de réfraction, l'épaisseur, la rugosité, les fonctions diélectriques ou les réponses plasmoniques.
Des études récentes menées par notre groupe ont démontré l'efficacité de l'utilisation de réseaux de neurones artificiels pour l'analyse rapide des données ellipsométriques, notamment dans la caractérisation de films nanocomposites. L'intégration de l'IA dans ce domaine offre des perspectives prometteuses pour l'automatisation et l'amélioration de la précision des analyses.
L'objectif de cette thèse est de concevoir une approche hybride combinant intelligence artificielle (IA) et modélisation physique afin de renforcer l'interprétation automatique des données issues de l'ellipsométrie spectroscopique. Cette approche reposera sur le développement d'algorithmes d'apprentissage automatique, notamment des réseaux de neurones profonds, capables d'analyser des données complexes tout en tenant compte des variations spectrales et angulaires inhérentes aux mesures. Ces modèles seront entraînés sur des bases de données mixtes, composées de spectres simulés et expérimentaux, puis couplés à des modèles physiques classiques (Cauchy, Tauc-Lorentz, Drude, EMA) afin de guider ou contraindre l'apprentissage et garantir la validité physique des prédictions. Une phase clé consistera à générer une base de données de simulations ellipsométriques, en explorant un large éventail de paramètres optiques, géométriques et matériaux, tout en incluant les effets d'anisotropie, de rugosité, de structuration chirale ou multicouche. Les modèles d'IA développés permettront ensuite d'automatiser la modélisation inverse, c'est-à-dire l'extraction rapide et fiable des paramètres caractéristiques des matériaux (indices optiques, épaisseurs, porosité, etc.) à partir de spectres mesurés, avec une évaluation comparative des performances par rapport aux méthodes traditionnelles d'ajustement non linéaire (par exemple, Levenberg–Marquardt). Cette méthodologie sera appliquée à la caractérisation en temps réel de matériaux nanostructurés et chiraux étudiés au sein du LCP-A2MC, et portera sur des systèmes variés tels que des films nanocomposites dopés, des couches chirales obtenues par GLAD, des matériaux bio-inspirés ou encore des structures plasmoniques. Une attention particulière sera portée à la validation expérimentale, en comparant les résultats issus de l'IA aux analyses traditionnelles pour en évaluer la robustesse, la précision et la capacité à détecter des caractéristiques subtiles, comme les singularités dans les spectres optiques. Enfin, les retours issus des modèles permettront d'optimiser les protocoles expérimentaux de synthèse des structures des matériaux et d'analyse, en adaptant les conditions de mesure pour maximiser la qualité des données acquises et améliorer la caractérisation globale des matériaux.

Ce travail sera réalisé au laboratoire LCP-A2MC de l'université de Lorraine sous la direction de Yann BATTIE et de Aotmane En Naciri. Le ou la candidat(e) devra être titulaire d'un Master 2 ou d'un diplôme d'ingénieur en physique, science des matériaux, optique, nanosciences ou intelligence artificielle appliquée aux sciences physiques. Une formation interdisciplinaire incluant le traitement de données, la modélisation physique et les méthodes numériques sera fortement valorisée. Le profil recherché combine une solide compréhension de l'optique et des matériaux, ainsi qu'un intérêt avéré pour l'intelligence artificielle appliquée.

Keywords

neural network, ellipsometry, modeling, neuronal inversion, nanomaterials

Subject details

The Laboratory LCP-A2MC in Metz is equipped with an ellipsometry platform, covering a broad spectral range from the ultraviolet to the far infrared (250 nm to 35 µm). This platform enables the precise characterization of complex materials such as thin films, nanostructures, and chiral materials by measuring optical properties like refractive index, thickness, roughness, dielectric functions, and plasmonic responses. Recent studies conducted by our group have demonstrated the effectiveness of using artificial neural networks for the rapid analysis of ellipsometric data, particularly in the characterization of nanocomposite films. The integration of AI in this field offers promising perspectives for automation and improved accuracy of analyses. The goal of this PhD thesis is to design a hybrid approach combining artificial intelligence (AI) and physical modeling to enhance the automatic interpretation of data from spectroscopic ellipsometry. This approach will be based on the development of machine learning algorithms, particularly deep neural networks, capable of analyzing complex data while accounting for the spectral and angular variations inherent to the measurements. These models will be trained on mixed databases consisting of both simulated and experimental spectra, and will be coupled with classical physical models (Cauchy, Tauc-Lorentz, Drude, EMA) to guide or constrain the learning process and ensure the physical validity of the predictions. A key phase will involve generating a database of ellipsometric simulations, exploring a wide range of optical, geometrical, and material parameters, while including effects such as anisotropy, roughness, chiral structuring, and multilayer systems. The AI models developed will then enable automated inverse modeling — that is, the fast and reliable extraction of characteristic material parameters (optical indices, thicknesses, porosity, etc.) from measured spectra — with comparative evaluation of performance against traditional nonlinear fitting methods (e.g., Levenberg–Marquardt). This methodology will be applied to real-time characterization of nanostructured and chiral materials studied at LCP-A2MC, involving diverse systems such as doped nanocomposite films, chiral layers obtained by GLAD, bio-inspired materials, and plasmonic structures. Particular attention will be paid to experimental validation, by comparing AI-based results with traditional analyses to assess robustness, accuracy, and the ability to detect subtle features such as singularities in optical spectra. Ultimately, insights from the models will help optimize experimental protocols for material synthesis and analysis, adapting measurement conditions to maximize data quality and enhance overall material characterization. This research will be carried out at the LCP-A2MC laboratory of the University of Lorraine under the supervision of Yann BATTIE and Aotmane En Naciri. Candidates should hold a Master's degree or an engineering diploma in physics, materials science, optics, nanoscience, or artificial intelligence applied to physical sciences. An interdisciplinary background including data processing, physical modeling, and numerical methods will be highly valued. The ideal profile combines a strong understanding of optics and materials with a proven interest in applied artificial intelligence.

Profil du candidat

Le ou la candidat(e) devra être titulaire d'un Master 2 ou d'un diplôme d'ingénieur en physique, science des matériaux, optique, nanosciences ou intelligence artificielle appliquée aux sciences physiques. Une formation interdisciplinaire incluant le traitement de données, la modélisation physique et les méthodes numériques sera fortement valorisée. Le profil recherché combine une solide compréhension de l'optique et des matériaux, ainsi qu'un intérêt avéré pour l'intelligence artificielle appliquée. Des connaissances en modèles ellipsométriques seraient un plus, tout comme un goût prononcé pour l'expérimentation et la modélisation.

Candidate profile

The candidates should hold a Master's degree or an engineering diploma in physics, materials science, optics, nanoscience, or artificial intelligence applied to physical sciences. An interdisciplinary background including data processing, physical modeling, and numerical methods will be highly valued. The ideal profile combines a strong understanding of optics and materials with a proven interest in applied artificial intelligence.

Référence biblio

[1] Battie, Y., Valero, A. C., Horwat, D., & Naciri, A. E. (2022). Rapid ellipsometric determination and mapping of alloy stoichiometry with a neural network. Optics Letters, 47(8), 2117-2120.
[2] Mansour, Y., Battie, Y., En Naciri, A., & Chaoui, N. (2019). Artificial neural network for the classification of nanoparticles shape distributions. Optics Letters, 44(13), 3390-3393.
[3] Kfoury, P., Battie, Y., Naciri, A. E., Voue, M., & Chaoui, N. (2024). Rapid ellipsometric imaging characterization of nanocomposite films with an artificial neural network. Optics Letters, 49(3), 574-577.